近接場磁場の高分解能測定用に設計。●IEC 61967-3に準拠したICによる表面スキャン ●IC経由のボリュームスキャン ●ピンスキャン の測定が可能。
ICR HV セットには、磁場測定用の ICR 近接場マイクロプローブが 1 つ含まれています。 測定コイルはプローブヘッド内で水平。 ICR プローブは、ポジショニング システム (Langer社スキャナー) で操作されます。
ウェーブクレスト株式会社 近磁界マイクロプローブ 2.5MHz～6GHz, 分解能60μm Hフィールド (ICR HV100-6 set)
近磁界マイクロプローブ 2.5MHz～6GHz, 分解能60μm Hフィールドの特長
ICR HV100-6 set 製品概要
近磁界マイクロプローブは、近接場磁場の高分解能測定用に設計されています。ICR H プローブを使用すると、次の測定を実行できます。
IEC 61967-3 に準拠した IC による表面スキャン
IC経由のボリュームスキャン
ピンスキャン
ICR RF プローブ ヘッドの測定コイルは、測定面に対して垂直に配置されています。
プリアンプはプローブ ハウジングに組み込まれており、Bias-Tee から電源が供給されます。
ICR 近接場プローブは、出荷前に品質チェックを受けます。異なる基準セットアップ測定が実行され、結果として補正線が生成されます。標準化された補正線、H フィールド補正線、電流補正線の 3 つの異なる補正線が決定されます。
注意: ICR プローブはその構造上、衝撃に弱く、輸送および取り扱い用の保護キャップが付属しています。
納入品目
1xICR Corr、補正曲線 ICR / USB
1xNT FRI EU、電源ユニット
1xICRケース1、システムケース
.jpg)
基準物体による測定
近磁界マイクロプローブは、その設計と高度な小型化により、タイプ シリーズ内で透過動作に違いが見られるため、基準物体での測定が必要です。この目的のために、マイクロプローブはストリップライン上で測定されます。このようにして、伝送挙動は、以前に定義された値で決定することができます。お客様は、注文された各マイクロプローブの証明書と、対応する近接場マイクロプローブの特定の特性を受け取ります。
ICR HV100-6について
近磁界マイクロプローブは、非常に高い分解能と感度で磁場を測定するために使用されます。測定対象物までの最適な距離は 1 mm 未満です。測定コイルは、プローブヘッド内で垂直に配置されています。
プローブヘッドは電界カップリングに対してシールドされています。プリアンプは、BT 706 バイアス ティーによって電力を供給されるプローブ ハウジングに組み込まれています。ハウジングの調整ネジにより、プローブ チップをプローブ ハウジングに手動で位置合わせできます。
このプローブは、Langer スキャナの衝突保護機能をサポートしており、被試験デバイスに触れると、垂直方向の移動中に動きを停止します。
ハウジングは、市販のテスターにも取り付けることができます。
注意！チップはその構造上、衝撃に非常に敏感です。そのため、自動位置決めシステムを使用してプローブを配置することをお勧めします。
技術パラメータ
.jpg)
BT706について
製品概要
バイアス ティーは、Langer EMV-Technik GmbH のアクティブ近接場プローブの電源に使用されます。 MFA または ICR。 バイアス ティーは、アクティブ近接場プローブとスペクトラム アナライザまたはオシロスコープの間の信号経路に挿入され、プラグイン電源から給電されます。
技術パラメータ
★ICR HV100-6セット（2.5MHz～6GHz）以外にも、1.5MHz～6GHz, 500KHz～2GHz, 2MHz～6GHz, 200KHz～1GHzのセットもございます。ぜひお問い合わせください。
ICR HV プローブと垂直測定コイルの比較
.jpg)
ICR HVxxx-27/-75 という名前のプローブは、低周波数範囲でのゲインが高いという特徴があります。(下部のHH近接場マイクロプローブの周波数応答を参照してください。)
ICR HV100-6 set 製品概要
近磁界マイクロプローブは、近接場磁場の高分解能測定用に設計されています。ICR H プローブを使用すると、次の測定を実行できます。
IEC 61967-3 に準拠した IC による表面スキャン
IC経由のボリュームスキャン
ピンスキャン
ICR RF プローブ ヘッドの測定コイルは、測定面に対して垂直に配置されています。
プリアンプはプローブ ハウジングに組み込まれており、Bias-Tee から電源が供給されます。
ICR 近接場プローブは、出荷前に品質チェックを受けます。異なる基準セットアップ測定が実行され、結果として補正線が生成されます。標準化された補正線、H フィールド補正線、電流補正線の 3 つの異なる補正線が決定されます。
注意: ICR プローブはその構造上、衝撃に弱く、輸送および取り扱い用の保護キャップが付属しています。
納入品目
1xICR Corr、補正曲線 ICR / USB
1xNT FRI EU、電源ユニット
1xICRケース1、システムケース
基準物体による測定
近磁界マイクロプローブは、その設計と高度な小型化により、タイプ シリーズ内で透過動作に違いが見られるため、基準物体での測定が必要です。この目的のために、マイクロプローブはストリップライン上で測定されます。このようにして、伝送挙動は、以前に定義された値で決定することができます。お客様は、注文された各マイクロプローブの証明書と、対応する近接場マイクロプローブの特定の特性を受け取ります。
ICR HV100-6について
近磁界マイクロプローブは、非常に高い分解能と感度で磁場を測定するために使用されます。測定対象物までの最適な距離は 1 mm 未満です。測定コイルは、プローブヘッド内で垂直に配置されています。
プローブヘッドは電界カップリングに対してシールドされています。プリアンプは、BT 706 バイアス ティーによって電力を供給されるプローブ ハウジングに組み込まれています。ハウジングの調整ネジにより、プローブ チップをプローブ ハウジングに手動で位置合わせできます。
このプローブは、Langer スキャナの衝突保護機能をサポートしており、被試験デバイスに触れると、垂直方向の移動中に動きを停止します。
ハウジングは、市販のテスターにも取り付けることができます。
注意！チップはその構造上、衝撃に非常に敏感です。そのため、自動位置決めシステムを使用してプローブを配置することをお勧めします。
技術パラメータ
BT706について
製品概要
バイアス ティーは、Langer EMV-Technik GmbH のアクティブ近接場プローブの電源に使用されます。 MFA または ICR。 バイアス ティーは、アクティブ近接場プローブとスペクトラム アナライザまたはオシロスコープの間の信号経路に挿入され、プラグイン電源から給電されます。
技術パラメータ
★ICR HV100-6セット（2.5MHz～6GHz）以外にも、1.5MHz～6GHz, 500KHz～2GHz, 2MHz～6GHz, 200KHz～1GHzのセットもございます。ぜひお問い合わせください。
ICR HV プローブと垂直測定コイルの比較
ICR HVxxx-27/-75 という名前のプローブは、低周波数範囲でのゲインが高いという特徴があります。(下部のHH近接場マイクロプローブの周波数応答を参照してください。)
近磁界マイクロプローブ 2.5MHz～6GHz, 分解能60μm Hフィールドの資料ダウンロード
Contact
近磁界マイクロプローブ 2.5MHz～6GHz, 分解能60μm Hフィールドに関するお問い合わせ
出展企業情報
- 企業名
-
ウェーブクレスト株式会社
- 企業PR
- ユニークでハイパフォーマンスな各種測定器や電波暗室＆EMC試験のためのソリューションを世界中から日本のマーケットに提供します。電磁界測定・EMC試験・汎用計測におけるユニークで新しいソリューションを提供する企業として、ウェーブクレスト株式会社は活動しています。高度化する電子・通信環境はその製品の性能ばかりでなく社会全体の安全性をも左右する社会インフラとして、高い安全性、信頼性が求められています。従来の試験方法や機器にとらわれずマーケットが必要とする新しい製品やソリューションを提供していきたいと考えます。 【取扱製品】 ・電磁界測定器、光電界プローブ、近磁界プローブ、電界プローブ ・インパルス巻線試験機（部分放電試験機）、耐電圧試験機 ・電磁波シールドテント、電波暗箱、EMCレシーバ、EMC測定ソフト、疑似電源回路網（LISN)など ・ミリ波スペアナ、ミリ波信号発生器、測定用アンテナ、EMC＆RFアンプ ・オシロスコープ、スペアナ、ベクトルネットワークアナライザ、任意信号発生器、各種電源 ・高電圧プローブ、電流プローブ、オシロスコープ用各種プローブ ・環境測定器、各種IoTセンサー、二酸化炭素モニタ ・半導体テスト製品、マニピュレータ、ハンドラー、ドッキングI/F、ソケット、テストシステム ・各種測定器修理、校正サービス（ISO17025対応）、計測器＆アンテナ等のレンタル業務
