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  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/10/24

  Eフィールドソース (ES00)

  精密な電界照射で、EMC試験の信頼性を強化。Langer ES00が、微細領域の耐性評価をスマートに支援します。
  
  LangerのES00は、EMCイミュニティ試験向けのEフィールドソースです。微弱な電界を近接照射し、SMD部品や回路の電磁耐性評価に活用可能。高精度で再現性のある試験を支援します。

  # 電界印加ユニット # 電磁干渉試験 # EMC試験用具 # Langer製品 # 近接電界照射 # 電界耐性検証 # 静電界評価 # 微細電界制御 # SMD向け測定 # EMCプローブ

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2025/10/24