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  株式会社東京精密 ｜最終更新日：2026/02/25

  計測用X線CT装置 (ZEISS METROTOM 1500)

  欠陥解析だけでなく、寸法・形状・幾何公差も計測できる広範囲・高精度・高画質の次世代X線CT装置
  
  三次元座標測定機で培われた各軸の制御技術と超高精度位置決めステージ、高解像度フラットパネルディテクタ、ソフトウェアを採用するなど、これまでの観察用X線CT装置とは一線を画し、構造解析、機能検査、欠陥解析等の非破壊検査、樹脂成形部品やアルミダイカスト等、複雑な工業製品の内部形状の構造比較や内外寸法の高精度な計測まで、幅広く最適なソリューションを提案します。

  # 非破壊 # X線 # 寸法 # 内部欠陥 # 計測 # アルミ # 樹脂 # リバースエンジニアリング # 測定 # 観察

  株式会社東京精密 ｜最終更新日：2026/02/25

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  株式会社東京精密 ｜最終更新日：2026/02/25

  計測用X線CT装置 (Insightcom160)

  表面も内部も一度にスキャン 使いやすさと高信頼性を兼ね備えた計測用X線CT装置
  
  Ｉｎｓｉｇｈｔｃｏｍ１６０は、欠陥解析だけでなく寸法・形状・幾何公差を非破壊で計測できるコンパクトなＸ線ＣＴ装置です。また、ＤＡｋｋＳ認定取得済のカールツァイス社で校正したトレーサブルな基準器を用いて精度検査、ＪＩＳ Ｂ ７４４０－１１：２０２４に準拠した精度保証を行っており、信頼性の高い測定結果をご提供します。

  # 非破壊 # X線 # 寸法 # 内部欠陥 # 計測 # アルミ # 樹脂 # リバースエンジニアリング # 測定 # 観察

  株式会社東京精密 ｜最終更新日：2026/02/25

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  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/15

  【ライカ】4K　デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)

  品質管理・外観検査のための Emspira3。　 パソコン本体不要！モニタ直結で4Kライブ表示、 画像保存、測定まで可能なＰＣレスデジタルマイクロスコープ。
  
  EmspiraはＰＣレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単 一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有する ことができます。

  # ４Ｋデジタルマイクロスコープ # ＰＣレス # 安価マイクロスコープ # 計測 # 操作簡単 # デジタルマイクロスコープ

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/15