ハンディ型画質解析装置 (PIAS-II )

Quality Engineering Associates (QEA), Inc.|最終更新日:2023/06/23

基本情報

ハンディ型画質解析装置
  • ハンディ型画質解析装置

いつでも、どこでも、簡単に! 印刷画質を客観的に測定することができます!

QEAが開発した画期的な携帯型画質解析装置です。優れた機能を備え、測定法は画像評価のためのISO-13660等の国際標準に基づいており、測定値はすべて校正されています。

型番
PIAS-II
価格
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発売日
発売中
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ハンディ型画質解析装置の特長

 

■バッテリー不要で、高速USB2.0でPCに接続する高性能デジタルカメラタイプ  
■ISO-13660に基づいた画像の定量的な評価  
■高解像度と低解像度の2種類の測定モジュール  
■エクセル、その他のアプリケーションにデータや画像を容易に転送可能  
■画像はビットマップ保存可能  
■多様なファイルフォーマットで保存した画像解析が可能  
■持ち運びに便利な人間工学に基づいた設計で小型軽量  

 

PIAS-II はデジタル拡大鏡です

PIAS-II は画質評価の新しい世界を拓くデジタル拡大鏡です。高解像度の画像がリアルタイムで表示されるので、瞬時に画質の評価、解析を行い結果の情報共有が可能です。

品質の評価基準

 

印刷装置の設計

 

インクの研究開発・評価

 

犯罪科学におけるソリューション

 

豊富な分析ツール

標準機能ツールボックス:ドット・ライン・エッジ・面画像の特性測定、NPS

 

 

上級機能ツールボックス:標準機能ツールボックスの全機能、及び SFR ( 空間周波数反応)NPS (ノイズパワー ・スペクトル 、 Reg (SFR 法を用いたカラーレジストレーション)

 

ドット特性の測定

(LR)= 低解像度オプティックス           ( HR)  =  高解像度オプティックス

 

主な仕様

 観察領域   High resolution module : ~3.2x2.4mm
Low resolution module : ~21.3x16mm
 光学モジュール   High resolution module : ~2.5μm/pixel
Low resolution module : ~16.5μm/pixel
 標準機能   ドットのハーフトーンの測定
(数 面積 直径 真円度 ドット%等)
  ラインとエッジの測定
(線幅 ぼやけ度 コントラスト 断裂 方位)
  面画像の測定
(RGB XYZ L*a*b* ΔE 粒状度 モトル)
 上級機能   空間周波数応答 (Spatial Frequency Response)
ノイズパワースペクトル (Noise Power Spectrum)
傾斜エッジ法を用いたカラーレジストレーション (Color Registration using the slant edge method)
文字自動認識測定
グラフィクス自動認識測定
 カメラモジュール    カラーCCD(1280x1024)
 インターフェイス   USB2.0
 PC仕様   Windows XP~Windows 8.1搭載のPC 又は UMPC (高性能モバイル PC)

 

 資料

PIAS II ご紹介資料

QEA_PIAS_IAS2000_画像評価概要説明

 

 

 

ハンディ型画質解析装置の動画

ハンディ型画質解析装置に関するお問合せ

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出展企業情報

企業名
Quality Engineering Associates (QEA), Inc.
企業PR
アメリカQuality Engineering Associates (QEA)のハンディ型画像評価システム「PIAS-Ⅱ」の販売・サポートは日本電計にて行っております。
連絡先
営業本部 木村 03-5816-3561
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