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  エスペック株式会社 ｜最終更新日：2026/03/31NEW

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  コンデンサ絶縁劣化 試験システム (AMQ)

  温度、周波数特性に対するコンデンサのパラメータを自動収録
  
  環境試験装置の温度ステップ制御の自動化と、コンデンサの静電容量、誘電正接(tanδ)、インピダンスの多チャンネル測定の自動化を実現しました。これにより、任意の温度環境下での周波数特性や経時変化を自動データ収録することができます。また、コンデンサの特性評価のみならず、各種電子部品やプリント基板、絶縁材料の評価にも幅広くご利用いただけます。

  # コンデンサ # 信頼性 # MLCC # 計測システム # 温度特性 # 環境試験 # 誘電特性 # エスペック # 周波数特性 # ESPEC

  エスペック株式会社 ｜最終更新日：2026/03/31