エスペック株式会社
|最終更新日:2026/03/31NEW
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コンデンサ絶縁劣化 試験システム (AMQ)
温度、周波数特性に対するコンデンサのパラメータを自動収録
環境試験装置の温度ステップ制御の自動化と、コンデンサの静電容量、誘電正接(tanδ)、インピダンスの多チャンネル測定の自動化を実現しました。これにより、任意の温度環境下での周波数特性や経時変化を自動データ収録することができます。また、コンデンサの特性評価のみならず、各種電子部品やプリント基板、絶縁材料の評価にも幅広くご利用いただけます。
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|最終更新日:2026/03/31