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  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2026/01/16

  ダブルパルス磁場源セット　プローブヘッド寸法 直径500µm (ICI-DP HH500-15)

  精密に狙い、確実に揺さぶる。IC耐性を検証するコンパクトFIプローブ。
  
  ICI-DP HH500-15 は、ICやマイコンに対して局所的なパルス磁界を照射し、誤動作を誘発するためのフォルトインジェクション用プローブです。500Vパルスと高速立ち上がりにより、暗号処理や制御ICの脆弱性評価を効率化。小型ヘッドで狙った領域へ正確にエネルギーを注入でき、再現性の高い物理攻撃試験を実現します。セキュリティ評価や耐故障性検証に適した実用モデルです。

  # フォルトインジェクション # 高速パルス磁界 # パルス磁界注入 # マイコン物理攻撃 # IC誤動作試験 # 暗号IC評価 # セキュリティ脆弱性評価 # 局所磁界注入プローブ # 耐タンパ性検証 # Langer

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2026/01/16

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  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2026/01/16

  ダブルパルス磁場源セット　プローブヘッド寸法 直径1000µm (ICI-DP HH1000-15)

  ICを“意図的に揺さぶる”。耐故障性を見抜くパルス磁界インジェクタ。
  
  ICI-DP HH1000-15 は、ICやマイコンに対して強力なパルス磁界を照射し、誤動作や故障を意図的に誘発するための故障注入（Fault Injection）用プローブです。1000Vパルス、2ns立ち上がり、最大16Aのパルス電流により、暗号ICの耐タンパ性評価やセキュリティ検証に最適。高精度な位置決めと再現性の高い注入が可能で、堅牢なセキュリティ設計を支援します。

  # フォルトインジェクション # 高速パルス発生 # パルス磁界注入 # 暗号IC解析 # セキュリティ評価 # マイコン耐故障性 # 耐タンパ性試験 # 物理攻撃評価 # IC誤動作テスト # Langer

  ウェーブクレスト株式会社 ｜最終更新日：2026/01/16