2026年05月28日NEW
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材料、半導体、デバイス特性評価等で頻繁に用いられる半導体パラメータアナライザですが、 デバイスの高速化や微細化に伴い、従来のIV 評価だけでなく CV評価、高速評価、信頼性評価等、様々な評価が求められるケースが増えてきました。 また設備更新に当たって技術面、オペレーション面で種々お悩みを抱えられる方も少なくありません。 本イベントでは1 社様限定のオンライン会議を通じて 半導体測定のためのソリュー...