1. 高速マッピング

最大15万cpsの高計数率検出器による高感度測定と、最大250mm × 200mmエリアをマッピング可能な高速ステージにより、高速マッピング測定が可能です。

100mm × 100mmエリアでは、実装基板の端子に含まれる鉛を2～3分で検出し、部位を特定可能です。

Heパージオプション装着により、Naからの軽元素の分析が可能です。

測定している間だけHeをパージする独自の安定したシステムでランニングコストも低減しています。

ノートPCや携帯電話など、外装部品により内部の構造がわからない製品について、分解せずに内部の基板上のPbをはじめ、様々な元素のマッピング像を得ることができます。

X線を透過させて得られる元素のマッピング像を比較することにより、内部の部品や構造について、様々な情報を得ることが可能です。

EA6000VXは、高速マッピング機能により広域エリア（最大250mm × 200mm）に含有する数十µmの微小な金属異物を数分で検出し、含有部位を特定できます。

樹脂などの有機物であれば内部に含有している微小、微量金属異物も検出できます。

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