蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ (FT160シリーズ)
株式会社 日立ハイテクサイエンス｜最終更新日：2022/07/04
 |
 |
 |
 |
基本情報
高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。
微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。
- 型番
- FT160シリーズ
- 価格
- お問合せ下さい
- 発売日
- 販売中
蛍光X線膜厚計 FT160シリーズの特長
特長
X線光学系にポリキャピラリを採用
約30 μmφに高輝度な１次X線を照射し高精度測定を実現しました。
検出器系に高性能半導体検出器（SDD）を採用
高計数率半導体検出器（SDD）で高精度測定を実現しています。
画像処理ソフトによる自動測定アシスト機能
正確な多点自動測定による高効率化を実現しています。
シンプルなソフトデザインとヘルプ機能で簡便操作
日々のルーチン測定は、登録したアプリを用いて簡単に行うことができます。
作業者の安全・安心に配慮した装置デザイン
X線漏洩のリスクが非常に少ない密閉型筐体を採用しています。また、扉開口部を大きくし、試料の視認性や操作性を追求しました。
仕様
| 型式 | FT160S | FT160Sh | FT160 | FT160h | FT160L | FT160Lh |
| X線発生源 | 標準 | 高エネルギー | 標準 | 高エネルギー | 標準 | 高エネルギー |
| Mo | W | Mo | W | Mo | W | |
| 測定対象元素 | 13Al から92U | |||||
|
試料台(mm)
|
300(W)×245(D) | 420(W)× 320(D) | 620(W) × 620(D) | |||
| 測定可能試料サイズ(mm) | 300(X) × 245(Y) × 80(Z) | 400(X) × 300(Y) × 100(Z) | 600(X) × 600(Y) × 20(Z) | |||
蛍光X線膜厚計 FT160シリーズに関するお問合せ
出展企業情報
- 企業名
- 株式会社 日立ハイテクサイエンス
- 企業PR
- 分析・計測・観察装置の、開発、製造、販売。（2013年1月1日より、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社から社名変更いたしました）
- 連絡先
- お近くの日本電計各営業所まで
【新製品】マルチファンクションジェネレータ WF1983 / WF1984発売！！必要な波形を容易に出力。 テストの品質および効率向上に。
注目の動画
動画でわかる！ お悩み｢ズバッ｣と解決シリーズ（テクシオ・テクノロジー編）
計測業界の皆様必見！身近な悩みを解決できる動画を多数ご用意いたしました。問題解決のご参考にぜひご活用ください。
トピックス
- 2023/08/08
- TEST2023 第17回総合試験機器展 2023年9月13日(水)～9月15日(金)
- 2023/08/04
- 夏季休業のお知らせ
- 2023/05/09
- 第6回ものづくりAI/IoT展 2023年6月21日（水）～23日（金）
- 2023/04/18
- ゴールデンウィーク休業のお知らせ
業界ニュースや登録メーカー各社の最新の情報をお届けいたします。
