画像処理 | 日本電計株式会社が運営する計測機器、試験機器の総合展示会

画像処理の製品一覧

全28件見つかりました。

3D MEMS用振動・変位解析装置 (MEMSMap 510)

水晶振動子、圧電素子等の面外及び面内振動を1nmレベルから検出可能。高周波数240MHzまで対応。位相情報も含めてリアルタイムで確認も可能。

MEMSMap510は微小測定物(0.1mm以上)の振動変位解析をCCDカメラと顕微鏡レンズを用いて行います。測定物にレーザーを照射し、測定物より反射されたレーザーと内部レファレンスレーザーとの間で干渉縞が作成され、その干渉縞を高精度の顕微鏡レンズとCCDカメラで画像処理ボードを通して、デジタルデータとしてPCに取り込みます。

オープン価格

有限会社シスコム｜最終更新日：2024/04/24

松浦電弘社ロボットシステム (-)

目や脳を持ったロボットシステム

松浦電弘社が培った自動制御・計測・AI・ロボットの技術やノウハウを結集しました。 LabVIEWによりセンシング・ロボット・AI・高速同期ネットワークを一体化したシステムとして提供しています。自動化への挑戦をスタートから丁寧にお手伝いします。

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日本電計株式会社｜最終更新日：2023/11/15

超高速＆高解像度リアルタイムAI外観検査 (SURF-AI)

従来の画像処理技術では実現できていなかった塗装製品の外観検査をリアルタイムで検出可能なAIモデルにて実現。

リアルタイム塗装外観検査システム『SURF-AI』は、高速撮像機能(100μsec)と動画レベルの秒間40枚の画像を検出処理することができる『SURF-AI』独自の検査AIによって、作業中や搬送中のラインを止めることなくリアルタイムで検査可能(特許第7188821号)。

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日本電計　ソリューション推進部｜最終更新日：2023/06/13

AIとルールベースを活用した3次元外観検査ソリューション (愛電×XTIA)

欠陥箇所を高精度で3次元定量化します！

「光コム」技術を活用した、検査、測定用の3Dスキャナーで、「長い焦点距離で離れた位置から複雑形状のワークをμmの精度で測定」することで、ユーザー様の課題を解決します。今まで人に頼ってきた目視検査の自動化だけではなく、曖昧領域を得意とするAI外観検査との組み合わせもオススメです。

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日本電計　ソリューション推進部｜最終更新日：2023/06/13

LoRaWANゲートウェイ準産業用 (UG65)

視通線のある場所では5km以上（環境による）の通信が可能で、スマートオフィス、スマートビルディングなど屋内での通信市場を広くカバー

●IP65準拠 ●NXP社製クアッドコアプロセッサー
●Semtech SX1302 LoRaチップ
●複数のバックホールコネクティビティ
●組み込み型ネットワークサーバー
●複数のネットワークサーバーに対応
●グローバルLoRaWAN周波数プラン

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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2023/04/05

LoRaWANゲートウェイ　ミニ (UG63)

ゲートウェイフリート機能により、複数のエージェントゲートウェイから1つのコントローラゲートウェイに受信データを送信可能。LoRaWAN®ネットワークの展開と管理を容易にします。

●アイキャッチデザイン
●圧倒的な接続性
●ブラインドスポットカバレッジ
●ゲートウェイ・フリート

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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2023/03/31

LoRaWANゲートウェイ産業用 (UG56)

産業用アプリケーションに信頼性の高い接続を提供する高性能8チャネルLoRaWAN®ゲートウェイ

●産業グレードのデザイン
●リッスン・ビフォー・トーク
●ゲートウェイ・フリート
●無償の組み込み型ネットワークサーバー
●複数のバックホールコネクティビティ
●グローバルLoRaWAN周波数プラン
●RU864/IN865/EU868/AU915 /US915/KR920/AS923)

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ウェーブクレスト株式会社｜最終更新日：2023/03/31

半導体向けCOGNEX VisionPro Deep Learning(ViDi) (ディープラーニングソフトウェア)

ディープラーニングベースの半導体向け画像分析にも多数ご利用いただいています。

Cognex VisionPro Deep Learningは、従来のマシンビジョンだけでは難しすぎる複雑な半導体検査とトレーサビリティアプリケーションを解決すると同時に、目視検査では不可能な一貫性とスピードも提供します。

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コグネックス株式会社｜最終更新日：2022/12/12

両面顕微鏡位置ずれ計測システム (TM-200)

AF機能を搭載し表裏の位置ずれを高精度自動計測！ワークを裏返しせず、同軸で表裏の観察・外観検査が可能！

・小型化高精度化し、両面の位置ずれを±１umで測定・FA自動化へ対応可能なシステム・両面ともにAFを搭載可能で、再現性が高い計測が可能・下側にIRカメラも搭載可能で、内部の位置ずれも計測可能

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株式会社フローベル｜最終更新日：2022/09/13

コンパクトタイプ両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。高精度、低価格化を実現。

水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる）装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

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株式会社フローベル｜最終更新日：2022/09/13

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