近赤外分光放射計 (SR-NIR)

株式会社トプコンテクノハウス|最終更新日:2018/09/11

基本情報

近赤外分光放射計
  • 近赤外分光放射計

超微弱な近赤外領域の計測を実現した分光放射計。 600~1030nmの分光分布を高精度に測定。

近年、ディスプレイや照明市場において「近赤外領域」測定の需要がますます増えてきております。このような状況の中、当社は分光放射計SRシリーズで培われた技術を基に「近赤外分光放射計SR-NIR」を開発いたしました。本製品は、分光放射計SRシリーズと併用していただくことで、380~1030nmの分光放射輝度を測定することが可能となりました。

型番
SR-NIR
価格
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発売日
発売中
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近赤外分光放射計の特長

特長

  • FPDから微弱に発光する近赤外領域の測定が可能
  • 近赤外領域(600~1030nmの分光分布の高精度測定を実現
  • 当社分光放射計SRシリーズとの併用で、可視~近赤外(380~1030nm)における分光分布測定が可能

 

主な用途

  • 各種FPDの近赤外領域の出力観測
  • Ne、Arの輝線出力観測
  • 光学フィルム等の近赤外透過特性の評価
  • その他光源の近赤外分光計測

近赤外分光放射計に関するお問合せ

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出展企業情報

企業名
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