ｉｎ－Ｓｉｔｕナノインデンター (ＮａｎｏＦｌｉｐ)

株式会社東陽テクニカ｜最終更新日：2020/10/06

ＮａｎｏＦｌｉｐは通常のインデンターでは困難な、微小領域の硬さ測定やマイクロピラーや粒子の圧縮試験をイメージング装置と同期しながら実現します。局所機械特性評価を可能とする、硬度・ヤング率マッピング機能などの拡張性も有します。

NanoFlipは、押し込み試験の第一人者Dr.Warren Oliverにより新たに設計された最新のナノインデンターで、小型で高精度なInForce50押し込みヘッドと、90°フリップ動作するサンプルステージを組み合わせ、サンプルの表面イメージングとその場のナノインデンテーションを実現します。

手のひらサイズの小型ボディーのため、電子顕微鏡（SEM）やFIB、各種光学顕微鏡、AFM（原子間力顕微鏡）、ラマン、XRDなど既存のイメージング装置に容易に組み込み、各種光学情報と機械特性の同時評価ができます。

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