走査電子顕微鏡 (JSM-IT200)

日本電子株式会社｜最終更新日：2018/06/27

JSM-IT200は、上位機種であるJSM-IT500の機能をよりシンプルに、使いやすくしたコストパフォーマンス重視の走査電子顕微鏡です。

試料交換ナビは、試料室を開けるところから観察開始までナビゲーションを行う機能です。

メイン画面に表示したホルダーグラフィックや光学CCD画像^*1を使って、視野探しや分析位置の指定が行えます。

*1　CCD画像撮影にはSNS (オプション) が必要です。

スペクトル表示と元素表示で、観察中の視野のスペクトルと主元素を確認できます。

*2　LA （Low Vacuum & Analysis）に適用されます

データ管理アイコンを押してデータ管理画面を表示すると、SEM像から分析まで全データのレポート一括作成、データの見直し、データの再解析が行えます。

分解能	高真空モード：3nm（30kV）、8nm（3kV)、15nm(1kV) 　低真空モード：4nm (30kV BED)
倍率	×5　～　×300,000　（画像サイズ128mm×96mmにて）
低真空圧力	10　～　100Pa
加速電圧	0.5 〜　30kV
試料ステージ	ユーセントリックステージ　X：80mm、Y：40mm、Z：5 ～ 48mm、傾斜：-10° ～ +90°、回転：360°
最大試料寸法	150mm径　×48mm高さ

製品やサービスに関するお問い合わせやご相談は、下記のフォームをご利用下さい。後日、ご要望に応じてご連絡を差し上げます。

*印の項目は必須入力となります。必要事項にご記入の上、「送信」ボタンをクリックしてください。

お問い合わせ種別 *

資料請求を希望
デモを希望
見積もりを希望
出展メーカーに問い合わせ

企業・団体名 *

部署名

氏名 *

姓　

名　

フリガナ *

セイ

メイ

郵便番号 *

ご住所 *

電話番号 *

FAX番号

メールアドレス *

お問い合わせ内容 *

ご要望に沿った製品提案を行うために、参考情報として下記の質問にお答え下さい。

SEMはお使いですか？ *	自部署のSEM使用他部署または他機関のSEM使用他部署または他機関にSEM測定を依頼したことがある SEMは使用したことも依頼したこともないその他
元素分析(SEM-EDS）はお使いですか？ *	自部署SEM-EDSを使用他部署または他機関のSEM-EDSを使用他部署または他機関にSEM-EDS測定を依頼したことがある SEM-EDSは使用したことがないが興味がある SEM-EDSは不要その他
SEMに対するご希望は？ *	SEM-EDS見積り希望 SEM見積り希望 SEM-EDS詳細説明希望 SEM詳細説明希望情報収集その他